广州芯谷PCB抄板、芯片解密服务机构，因为专业所以优秀！

X荧光测硫仪PCB抄板及克隆技术案例

　　该款X荧光测硫仪是深圳芯谷集成电路有限公司PCB抄板中心通过反向技术研发而成的，制作出的样机较原机毫不逊色，同时可根据客户的个性化需求进行相应的设计及功能参数修改。

　　技术参数
　　1.检出限 (3σ) ：0.0003% (3 ppm)
　　定量检测下线： 0.001% (10 ppm)
　　2.两次平行测定时间 1min
　　3.样品杯容积 8 cm3
　　4.光谱单元外形尺寸和重量 335x310x160mm， 8kg
　　5.供电要求 交电220V 50Hz 100W
　　主要特点
　　1. 样品杯处于X-射线管侧面位置，因此不需要附加保护膜防护检测器
　　2. 实际定量检测下线为7ppm，很轻松的满足能量色散的标准ISO 20847-2004
　　3. 虽然是能量色散的技术，但是从10ppm以上符合要求苛刻的波长色散的标准 ASTM D 2622-98
　　4. 例：10ppm 标样，平行测量20次，标准偏差为1.9ppm，两次平行测量最大
　　相差为5ppm，ASTM D 2622-98在10ppm含量时要求 5ppm
　　深圳芯谷集成电路有限公司长期从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制等反向技术研发，是目前国内最大最具权威性的专业反向技术研发商业机构，欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈。